Научно-исследовательский центр прикладной метрологии - Ростест
- О НИЦ ПМ - Росстест
-
Направления деятельности
- Федеральный информационный фонд по обеспечению единства измерений
- Разработка и сопровождение ФГИС "АРШИН"
- Электронный реестр подведомственных организаций Росстандарта, осуществляющих оценку состояния измерений в лабораториях
- Мониторинг и прогнозирование состояния системы ОЕИ
- Единый центр проверки результатов испытаний средств измерений
- Фундаментальные исследования
- Государственная служба стандартных справочных данных
- Подготовка метрологов. Аспирантура
- Научно-методический центр и исполнительный орган системы калибровки РСК
- Прикладные исследования и метрологическое обеспечение деятельности предприятий
- Научно-методический центр и Исполнительный орган Системы оценки и подтверждения компетентности в осуществлении метрологического надзора
- Редакционно-издательская деятельность
- Технический комитет по стандартизации - ТК 053
-
Метрологические услуги
- Испытания средств измерений
- Поверка средств измерений
- Калибровка средств измерений
- Метрологическая экспертиза документации
- Разработка и аттестация методик измерений
- Разработка и внедрение ССД, разработка и аттестации методик ГСССД
- Аттестация эталонов единиц величин
- Системы добровольной сертификации
- Аттестация испытательного оборудования
- Международные сертификаты калибровки CIPM MRA
- Разработка концептуальных (программных) документов по ОЕИ
- Разработка специализированного программного обеспечения в области метрологии для участников деятельности по ОЕИ всех уровней
- Экспертные работы в области разработки информационного и прикладного программного обеспечения для ОЕИ
- Оценка состояния измерений в лабораториях в соответствии с МИ 2427-2022 ГСИ
- Международное сотрудничество
- Пресс центр
- Контакты
Содержание ЗиПМ №1-2020 г.
СЛОВО ГЛАВНОГО РЕДАКТОРА | |
Миру нужен мир Л. К. Исаев |
2 |
ПРИВЕТСТВИЕ ДИРЕКТОРОВ МБМВ И МБЗМ | |
World Metrology Day – 20 May 2020 |
3 |
Martin Milton, Anthony Donnellan |
|
Международный день метрологии – 20 мая 2020 |
|
Мартин Милтон, Энтони Доннеллан |
|
ЗАКОНОДАТЕЛЬНАЯ МЕТРОЛОГИЯ | |
Немного о калибровке и о внутреннем метрологическом надзоре |
5 |
A few words about calibration and nonpublic metrological supervision
|
|
Р. И. Генкина |
|
Cнова о «безгирной» поверке весов |
9 |
More on the “weightless” verification of weighing instruments
|
|
А. Г. Кудрявцев |
|
МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ | |
Классификация пирометров |
12 |
Classification of pyrometers
|
|
Р. А. Горбунов, Д. С. Симачков, А. В. Фрунзе |
|
Исследование влияния газа на метрологические характеристики счетчиков жидкости |
22 |
Influence of gas on metrological characteristics of liquid flow meters
|
|
О. К. Шабалина, А. С. Шабалин |
|
Выбор средства измерений – решение конкретной измерительной задачи |
26 |
The choice of measuring instrument to solve a specific task of measurement
|
|
С. Б. Орлов |
|
ПРАКТИКА И ПРОБЛЕМЫ | |
НМатематическое моделирование рациональных вариантов развития групп предприятий, выпускающих продукцию отечественного производства |
28 |
Mathematical modeling of rational versions of the development of enterprise groups manufacturing domestic products |
|
Р. З. Хайруллин, О. И. Бойцова |
|
О новых требованиях к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий |
34 |
New requirements for the competence of testing and calibration laboratories
|
|
С. Ф. Левин |
|
КАЛИБРОВОЧНЫЕ И ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ | |
Частотный метод измерения длины волны монохроматического источника излучения света |
42 |
The frequency method used for measurement of the wavelength of a monochromatic light source |
|
Л. С. Бабаджанов, М. Л. Бабаджанова |
|
МЕТРОЛОГИЯ И ЭКОНОМИКА | |
Экономика и метрология в рамках технологических укладов. Ч. 4. Третий технологический уклад (1880 – 1930 годы) |
44 |
Economy and metrology in the framework of technological set-ups. Part Four. Third technological set-up (1880 to 1930) |
|
А. П. Чирков, А. А. Чирков |
|
ПОДГОТОВКА КАДРОВ | |
Метрологи на пороге новой технологической революции | 50 |
Specialists in metrology on the threshold of a new technological revolution
|
|
В. Г. Фирстов, Д. Ю. Рассамахин |
|
ИНФОРМАЦИЯ | |
О проведении Всероссийской научно-практической конференции | 54 |
ПРАВИЛА ПОДГОТОВКИ СТАТЕЙ К ПУБЛИКАЦИИ | |
Вниманию авторов статей | 55 |
Поделиться: