Версия для слабовидящих

Научно-исследовательский центр прикладной метрологии - Ростест

Содержание ЗиПМ №2-2020 г.

СЛОВО ГЛАВНОГО РЕДАКТОРА
Этих дней не смолкнет слава!
Л. К. Исаев
2
ОБЩИЕ ВОПРОСЫ МЕТРОЛОГИИ
Методические рекомендации по разработке правил принятия решений
в контексте требований ГОСТ ISO/IEC 17025-2019
3
Guidelines for developing decision-making rules in the context
of the requirements of GOST ISO/IEC 17025-2019
Е.Н. Савкова

Немецко-российский семинар по вопросам метрологии
цифровой экономики
12
German-Russian Seminar on Metrology for the Digital Economy
А. В. Яшин

МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
Новая государственная поверочная схема
для средств измерений уровня жидкости и сыпучих материалов
14
A new State Verification Scheme applied for measurement
of the level of liquid and bulk materials
В.Ш. Биккулов, А.В. Кондаков

ПРАКТИКА И ПРОБЛЕМЫ
Обеспечение качества автоматизированных систем
в метрологии: уровень производительности
18
Quality assurance for metrological automated systems: level of performance
А.А. Николаев

Риск-ориентированный подход к результатам измерений 21
Risk-oriented approach to the measurement results
Г.П. Воронин, О.М. Розенталь

КАЛИБРОВОЧНЫЕ И ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ
Методические аспекты повышения точности измерения удельной
теплоемкости дифференциальными сканирующими калориметрами
24
Methodological aspects of improving the measurement accuracy
of specific heat capacity using differential scanning calorimeters
Т.А. Компан, В.И. Кулагин, В.В. Власова

Совершенствование метрологической прослеживаемости
измерений мер толщины полупроводниковых покрытий
30
The improvement of metrological traceability of measurement results
of semi-conductor coating thickness measures
С.С. Голубев, Л.С.Бабаджанов, М.Л.Бабаджанова

КАЛИБРОВОЧНЫЕ И ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ
Частотный метод измерения длины волны
монохроматического источника излучения света
42
The frequency method used for measurement of the wavelength
of a monochromatic light source
Л.С. Бабаджанов, М.Л. Бабаджанова

МЕТРОЛОГИЯ И ЭКОНОМИКА
Экономика и метрология в рамках технологических укладов.
Ч. 5. Четвертый технологический уклад (1930-1980 годы)
34
Economy and metrology development in the framework of technological set-ups.
Part Five. The fourth technological set-up (1930-1980)
А.П. Чирков, А.А. Чирков

МЕЖДУНАРОДНОЕ СОТРУДНИЧЕСТВО
Всемирный День Метрологии: 20 лет 41
World Metrology Day: 20 years
Г.В. Битюкова, С.В. Комиссаров

МЕТРОЛОГИ РАЗМЫШЛЯЮТ
О метрологическом менталитете: калибровка
и дефинитивная неопределенность
46
On metrological mentality: calibration and definitional uncertainty
C.Ф. Левин